KAIST芯片液冷技术突破AI散热瓶颈

2026.06.18 · 41 閱讀
KAIST芯片液冷技术突破AI散热瓶颈

摘要

韩国KAIST研发出超高效芯片液冷技术,可让常温清水直达芯片内部进行散热,冷却性能较此前纪录提升10倍。该技术有望突破AI算力、高性能计算和数据中心的散热瓶颈,为下一代高密度芯片热管理提供新方案。

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韩国KAIST研发超高效芯片液冷技术:让常温清水直达芯片内部,破解AI散热瓶颈

关键词: 韩国科学技术院、芯片液冷、AI散热、微通道冷却、3D流形结构、数据中心、热管理、半导体制造

引言

随着人工智能、大模型训练、高性能计算和3D堆叠芯片的快速发展,芯片功耗与发热量正以前所未有的速度攀升。对于现代半导体系统而言,性能提升不再仅仅取决于算力、带宽和封装工艺,散热能力正在成为决定系统上限的关键因素。传统空气冷却、外部冷板冷却等方案虽然成熟,但在高热流密度场景下已逐渐逼近物理极限,难以继续满足下一代AI硬件的需求。

近日,韩国科学技术院(KAIST)研究团队宣布开发出一种超高效液冷技术:将常温水直接注入芯片内部的级细管道进行降温。根据研究结果,这一技术的冷却性能指数达到此前纪录的10倍,并于6月15日发表在国际学术期刊《能源转换与管理》上。更重要的是,这项技术不仅在性能上实现突破,还在成本、工艺兼容性和产业落地方面展现出极强的应用潜力,或将为未来高密度算力设备的热管理提供全新路径。

一、芯片发热失控,传统散热方式接近极限

过去几十年,电子散热技术的核心思路主要是“在芯片外部带走热量”。无论是风冷、散热片,还是液冷冷板,本质上都属于外部热管理方案。这类方法在中低功耗设备中表现良好,但面对AI加速器、数据中心服务器、功率半导体及3D堆叠芯片时,问题迅速显现。

一方面,芯片内部晶体管密度持续增加,单位面积内产生的热量大幅上升;另一方面,芯片与冷却介质之间往往隔着多层材料和传热界面,热量需要先经过硅片、封装层、导热界面材料,再抵达散热结构,热阻链条长且效率有限。结果就是,即便外部冷却系统不断增强,芯片内部热点仍可能持续积聚,导致温度不均、性能降频,甚至影响器件可靠性。

在这样的背景下,研究界开始将目光从“表面散热”转向“内部冷却”。如果能够让冷却液更接近热源,甚至直接作用于芯片内部,那么散热效率有望获得数量级提升。KAIST此次提出的方案,正是沿着这一方向迈出的重要一步。

二、把冷却通道嵌入芯片内部:3D流形多路微通道结构

KAIST团队研发的核心,是一种可直接嵌入硅芯片内部的3D流形多路微通道冷却结构。与传统在芯片上方放置冷板不同,这一设计直接在芯片内部构建了精细流道网络,让常温清水能够沿着微尺度通道在热源附近流动,从而实现更高效率的热交换。

这一结构的关键在于“歧管+微通道”的组合。歧管是冷却液的分配结构,负责将进入的冷却水均匀分送到各个微通道;微通道则是比头发丝还细的流道,承担与芯片热区直接换热的任务。多个入口和出口点的设置,使整个流体系统更像一个高效物流网络:冷却液被分流、分配、输送,再快速汇集排出,避免了单一路径下可能出现的流量不均和局部堵塞问题。

这种分散式设计的最大优势,是显著缩短了流体流动距离。距离越短,流动阻力越低,所需泵送压力就越小;同时,冷却液在整块芯片上分配更均匀,温度场也更稳定,能够有效抑制热点形成。对于AI芯片这类高热流密度器件而言,温度均匀性往往与寿命、稳定性、频率上限直接相关,因此这种设计不仅能“降温”,更能“稳温”。

三、在极端热流密度下仍保持低温运行

根据研究团队披露的数据,在超过2000瓦/平方厘米的极端发热条件下,该系统仍能将芯片温度保持在100℃以下。这个结果具有很强的现实意义。因为在高端AI芯片、GPU集群和高功率电子模块中,热流密度往往已经逼近甚至超过传统液冷方案的承受边界,而温度控制一旦失效,系统性能会迅速下降。

更值得注意的是,实验并不是在抽象条件下进行,而是基于5mm × 5mm测试芯片完成验证。虽然这个尺寸较小,但却足以说明该结构在微尺度热管理中的效率潜力。研究团队进一步推算,当这一系统应用于更大尺寸的AI半导体芯片(最大7.5cm × 7.5cm)以及数据中心冷板时,冷却性能相较现有方法可提升30%以上。这意味着它不仅适合实验室验证,也具备向实际工程场景迁移的可能性。

四、从“高性能”到“低代价”:COP提升带来的产业价值

衡量冷却系统优劣,不能只看降温效果,还要看为此付出的能耗与系统复杂度。研究团队通过测试发现,在相同升温条件下,该冷却系统的性能系数(COP)达到106000,约为2020年《自然》杂志报道结果的10倍。这一数据的意义在于:要实现同样的散热量,所需泵功率仅为现有技术的十分之一左右。

这不仅是性能跃升,更是系统级成本优化。对数据中心和高性能计算平台而言,冷却系统的电耗并非小头。若泵功率显著降低,带来的将不仅是运行成本下降,还包括整体能效提升和长期运维压力减轻。对于大规模部署的AI基础设施来说,哪怕冷却能耗下降几个百分点,都可能转化为巨大的经济收益,而这项技术将“十分之一泵功率”的提升落在了更具想象力的区间。

与此同时,该方案还避免了许多高成本、难量产的散热路线。例如,它不依赖相变制冷,也不需要复杂的纳米表面改性,更不必使用金刚石等昂贵特种散热材料。换言之,这项技术的突破并非建立在堆砌材料和制造复杂度之上,而是在结构设计和流体分配机制上做出了根本优化。以普通常温清水作为冷却介质,也大幅降低了搭建与维护门槛,这对于产业化尤为关键。

五、CMOS兼容工艺:真正有望落地的技术创新

许多先进散热技术之所以难以推广,不是因为性能不够,而是因为制造工艺与半导体生产线脱节。KAIST团队的另一项重要进展,在于其装置可采用与CMOS工艺兼容的制造方式,也就是说,它能够与传统半导体制造流程较好兼容,理论上可在现有芯片代工厂直接落地。

这意味着什么?意味着它不是一种需要“另起炉灶”的实验室概念,而是一种能够嵌入产业链的工程方案。如果一种散热结构能够在现有制造体系中被较低成本地集成,那么它的规模化应用前景将显著提升。对于半导体产业而言,这种兼容性往往比单纯的极限性能更重要,因为真正决定技术价值的,往往是能否从论文走向量产。

从更宏观的角度看,这项技术代表着半导体热管理思路的变化:未来散热不再只是芯片的“附属系统”,而可能成为芯片设计本身的一部分。算力、封装、供电与散热将共同构成下一代芯片架构的四大支柱,谁能在热管理上率先突破,谁就更有可能在高端芯片竞争中占据先机。

六、应用前景:从AI芯片到国防电子的广泛扩展

KAIST团队预计,这一方法不仅适用于大型AI半导体和数据中心冷板,还可推广到高性能计算(HPC)、3D堆叠半导体、功率半导体以及国防电子设备等多个高热负荷领域。这个判断具有较强合理性,因为这些场景有一个共同特点:体积受限、热密度高、散热窗口小,对冷却系统的效率和可靠性要求极高。

尤其是在3D堆叠芯片中,多层器件上下叠加,热量更容易在内部累积;在功率半导体领域,器件工作状态变化快、热冲击强;而在国防和航空电子设备中,系统往往要求轻量化、紧凑化与高可靠性并存。微通道内部冷却若能保持稳定运行,将为这些领域提供新的设计空间。

当然,技术从实验室走向产业仍需面对若干挑战。例如,长期运行下的堵塞风险、制造一致性、芯片可靠性、与封装材料的兼容性,以及冷却液纯净度管理等,都需要进一步验证。但从方向上看,这一技术已经清晰展示出“低成本、高效率、可制造”的综合优势,具备较强的工程吸引力。

结论

KAIST此次推出的超高效液冷技术,标志着芯片散热正在从“外部带走热量”迈向“内部精准控温”的新阶段。通过将常温清水直接引入芯片内部的3D流形多路微通道结构,研究团队不仅将冷却性能提升至此前纪录的10倍,还在泵功率、温度均匀性、制造兼容性和系统成本上实现了系统性优化。

对于正在快速演进的AI硬件和高性能电子系统而言,这项技术的意义远不止一次散热创新,更像是为未来高密度算力时代提供了一种新的基础设施思路。它证明,真正有价值的技术突破,不一定依赖更复杂的材料和更昂贵的工艺,也可以通过更精巧的结构设计、更高效的流体组织方式来实现。

随着芯片热密度继续攀升,散热将不再是配角,而是决定算力释放上限的核心变量。KAIST的这项研究表明,下一代半导体竞争,拼的不只是“更快”,还有“更冷”。

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